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北京上地供應(yīng) 四探針測試儀 (手動(dòng)帶軟件) 型號(hào):TZH24-RTS-8庫號(hào):M403790

北京上地供應(yīng) 四探針測試儀 (手動(dòng)帶軟件) 型號(hào):TZH24-RTS-8庫號(hào):M403790

簡要描述:
北京上地供應(yīng) 四探針測試儀 (手動(dòng)帶軟件) 型號(hào):TZH24-RTS-8庫號(hào):M403790
RTS-8型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

產(chǎn)品時(shí)間:2016-11-21

訪問量:988

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:

北京上地供應(yīng) 四探針測試儀 (手動(dòng)帶軟件) 型號(hào):TZH24-RTS-8庫號(hào):M403790  

RTS-8型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

北京上地供應(yīng) 四探針測試儀 (手動(dòng)帶軟件) 型號(hào):TZH24-RTS-8庫號(hào):M403790
儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。RTS-8型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析技 術(shù) 指 標(biāo) :


測量范圍
電阻率:10-5~105 Ω.cm(可擴(kuò)展);
方塊電阻:10-4~106 Ω/□(可擴(kuò)展);
電導(dǎo)率:10-5~105 s/cm;
電阻:10-5~105 Ω;
可測晶片直徑
140mmX150mm(配S-2A型測試臺(tái));
200mmX200mm(配S-2B型測試臺(tái));
400mmX500mm(配S-2C型測試臺(tái));
恒流源
電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表
量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
分辨力:10μV;
輸入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本指標(biāo)
間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行)
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整機(jī)測量zui大相對(duì)誤差
(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度
≤5%
測試模式
可連接電腦測試也可不連接電腦測試
軟件功能(選配)
軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測試數(shù)據(jù)zui大值、zui小值、平均值、zui大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測試數(shù)據(jù)輸出到Excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測試。
計(jì)算機(jī)通訊接口
并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5 秒(在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程檔時(shí))。
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
溫度:23±2℃;
相對(duì)濕度:≤65%;
無高頻干擾;
無強(qiáng)光直射;

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